研禾科技FETS-2000高溫鐵電測試儀可用于高溫環境下材料鐵電性能測試中測試信號的輸出和反饋信號的收集，可進行電滯回線測試、漏電流測試、疲勞測試、電擊穿強度測試、小信號電容測試、PUND測試、印痕測試、保持力測試等鐵電性能的檢測，另外還有壓電測試、介電測試、電阻率測試、電容充放電測試需配合另外升級選件實現。

FETS-2000是一款擴展靈活的高溫鐵電測試儀，也是一款可替代德國aixACCT公司生產的TF Analyzer 2000鐵電分析儀的國產鐵電材料性能測試設備，可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的研究。

鐵電參數測試主要性能指標：

a. 外接5 kV高壓放大器（可擴展至10 kV）（國產、進口均適用）；

b. 動態電滯回線測試頻率范圍0.01 Hz ～ 5kHz/10kHz/50kHz/100kHz/500kHz；

c. 最大電荷解析度：10 mC（可擴展）；

d. 疲勞測試頻率300 kHz（振幅10 Vpp，負載電容1 nF）；

e. 漏電流測量范圍 1 pA ～ 20 mA（可擴展），分辨率0.1 pA；

f. 配有高壓擊穿保護模塊；

g.溫度范圍：RT～200℃。

本測試系統由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺（配鐵電測試盒）或高低溫探針臺（配高壓探針）、計算機及系統軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發生器、內置驅動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數轉換器、通訊總線等功能，主控器提供擴展外置高壓放大器接口，可擴展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統軟件包括可視化數據采集和管理功能，測試時，無需改變測試樣品的連接，即可實現高溫環境下的滯回，脈沖，漏電，IV等性能測試。

本測試系統鐵電性能測試采用改進的Sawyer- Tower測量方法，與傳統的Sawyer- Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環節，容易定標和校準，并且能實現較高的測量準確度。

高溫鐵電測試儀測試功能：

動態電滯回線DHM

靜態電滯回線SHM

I-V特性

脈沖PUND

疲勞Fatigue

電擊穿強度BDM

漏電流LM

電流-偏壓

保持力RM

印跡印痕IM

變溫測試THM。